《光電檢測(cè)技術(shù)/普通高等教育“十二五”規(guī)劃教材 》系統(tǒng)介紹了光電檢測(cè)技術(shù)的基礎(chǔ)知識(shí)，光電檢測(cè)系統(tǒng)的組成及各部分的功能，各類(lèi)光電器件的工作原理、特性和典型應(yīng)用及其發(fā)展情況等。本書(shū)共分10章，主要內(nèi)容包括：光電檢測(cè)技術(shù)基礎(chǔ)、光電檢測(cè)系統(tǒng)中的光源、光學(xué)變換器件、光子探測(cè)器件、光電成像器件、熱電探測(cè)器件、光電信號(hào)處理、激光檢測(cè)技術(shù)、光纖傳感技術(shù)、光譜技術(shù)等。
前言
第1章 光電檢測(cè)技術(shù)基礎(chǔ)
1.1 光電檢測(cè)技術(shù)概述
1.2 光電檢測(cè)的基本概念
1.3 光頻電磁波的基本理論和定律
1.3.1 麥克斯韋方程
1.3.2 平面波
1.3.3 電磁場(chǎng)中的能量
1.3.4 光的反射和折射定律
1.3.5 電磁波譜與光度學(xué)
1.3.6 光的量子性
1.4 半導(dǎo)體物理基礎(chǔ)
1.4.1 半導(dǎo)體材料的能帶
1.4.2 半導(dǎo)體的導(dǎo)電性
1.4.3 半導(dǎo)體PN結(jié) 前言
第1章 光電檢測(cè)技術(shù)基礎(chǔ)
1.1 光電檢測(cè)技術(shù)概述
1.2 光電檢測(cè)的基本概念
1.3 光頻電磁波的基本理論和定律
1.3.1 麥克斯韋方程
1.3.2 平面波
1.3.3 電磁場(chǎng)中的能量
1.3.4 光的反射和折射定律
1.3.5 電磁波譜與光度學(xué)
1.3.6 光的量子性
1.4 半導(dǎo)體物理基礎(chǔ)
1.4.1 半導(dǎo)體材料的能帶
1.4.2 半導(dǎo)體的導(dǎo)電性
1.4.3 半導(dǎo)體PN結(jié)
1.4.4 半導(dǎo)體中的光吸收
1.5 光電檢測(cè)系統(tǒng)的組成及特點(diǎn)
1.6 光電檢測(cè)方法的應(yīng)用和發(fā)展趨勢(shì)
1.7 本書(shū)的主要內(nèi)容
第2章 光電檢測(cè)系統(tǒng)中的光源
2.1 光源的分類(lèi)
2.2 光源的特性參數(shù)及選擇的基本要求
2.2.1 輻射效率和發(fā)光效率
2.2.2 光譜功率分布
2.2.3 光源強(qiáng)度與空間光強(qiáng)分布
2.2.4 光源的顏色
2.2.5 光源的色溫
2.2.6 光源的穩(wěn)定性
2.2.7 光源其他方面的要求
2.3 熱輻射光源
2.3.1 黑體及黑體模擬器
2.3.2 白熾燈
2.3.3 紅外輻射燈
2.4 氣體放電光源
2.4.1 脈沖燈
2.4.2 燃燒式閃光泡
2.4.3 原子光譜燈
2.4.4 汞燈
2.5 金屬鹵化物燈
2.5.1 金鹵燈的性能結(jié)構(gòu)
2.5.2 金鹵燈的工作原理
2.5.3 金鹵燈的分類(lèi)和選擇
2.6 固體發(fā)光光源
2.6.1 電致發(fā)光屏
2.6.2 發(fā)光二極管
2.7 激光光源
2.7.1 氣體激光光源
2.7.2 固體激光器
2.7.3 半導(dǎo)體激光器
2.7.4 可調(diào)諧半導(dǎo)體激光器
第3章 光學(xué)變換器件
3.1 光調(diào)制器件
3.1.1 光束調(diào)制原理
3.1.2 電光調(diào)制器件
3.1.3 聲光調(diào)制
3.1.4 磁光調(diào)制器
3.1.5 空間光調(diào)制器
3.2 光掃描器件
3.2.1 機(jī)械掃描
3.2.2 電光掃描
3.2.3 電光數(shù)字式掃描
3.3 光放大器
3.3.1 光放大器的一般概念
3.3.2 半導(dǎo)體光放大器
3.3.3 摻鉺光纖放大器
3.3.4 光纖拉曼放大器
3.4 光開(kāi)關(guān)
3.4.1 微機(jī)電光開(kāi)關(guān)
3.4.2 電光開(kāi)關(guān)
3.4.3 熱光開(kāi)關(guān)
3.4.4 磁光開(kāi)關(guān)
3.4.5 聲光開(kāi)關(guān)
3.5 新型光學(xué)變換器件
3.5.1 光纖陀螺用集成光學(xué)芯片
3.5.2 通信用集成光學(xué)強(qiáng)度調(diào)制器
3.5.3 GC1120S型高消光比集成光學(xué)強(qiáng)度調(diào)制器
3.5.4 相位調(diào)制器
第4章 光子探測(cè)器件
4.1 光電探測(cè)器件的特性參數(shù)
4.2 光電導(dǎo)效應(yīng)和光敏電阻
4.2.1 光電導(dǎo)效應(yīng)
4.2.2 光敏電阻
4.3 光電發(fā)射器件
4.3.1 光電發(fā)射效應(yīng)
4.3.2 光電倍增管
4.3.3 微通道板
4.4 結(jié)型光電器件
4.4.1 光生伏特效應(yīng)
4.4.2 光電池
4.4.3 光敏二極管
4.4.4 PIN光敏二極管
4.4.5 雪崩光敏二極管
4.4.6 光敏晶體管
4.4.7 光生伏特器件組合件
4.4.8 光電位置敏感器件
4.5 各種光子器件的比較與選取
第5章 光電成像器件
5.1 像管
5.2 攝像管
5.2.1 攝像管的作用及分類(lèi)
5.2.2 攝像管的結(jié)構(gòu)和工作原理
5.3 電荷耦合器件（CCD）
5.3.1 CCD的基本原理
5.3.2 CCD時(shí)序信號(hào)讀出原理
5.3.3 性能評(píng)價(jià)指標(biāo)
5.4 互補(bǔ)金屬.氧化物.半導(dǎo)體（CMOS）
5.4.1 CMOS像元構(gòu)造
5.4.2 CMOS圖像傳感器的特性參數(shù)
5.4.3 CCD與CMOS的區(qū)別比較
5.5 電荷注入器件（CID）
5.6 自掃描光敏二極管陣列（SSPD）
5.6.1 SSPD線陣列
5.6.2 SSPD面陣列
5.7 紅外焦平面器件
第6章 熱電探測(cè)器件
6.1 熱輻射的一般規(guī)律
6.2 熱敏電阻
6.3 溫差電偶與熱電堆
6.4 熱釋電器件
6.4.1 熱釋電效應(yīng)
6.4.2 熱釋電探測(cè)器
6.4.3 熱釋電成像器件
第7章 光電信號(hào)處理
7.1 光電檢測(cè)系統(tǒng)的噪聲
7.1.1 噪聲的分類(lèi)及性質(zhì)
7.1.2 光電探測(cè)器主要的噪聲類(lèi)型
7.1.3 噪聲等效分析與設(shè)計(jì)
7.2 光電檢測(cè)系統(tǒng)的動(dòng)態(tài)特性
7.2.1 光電信號(hào)輸入電路的動(dòng)態(tài)計(jì)算
7.2.2 光電檢測(cè)電路的頻率特性
7.3 弱光檢測(cè)的信號(hào)處理技術(shù)
7.3.1 窄帶濾波器與鎖相放大技術(shù)
7.3.2 取樣積分法
7.3.3 相關(guān)檢測(cè)技術(shù)
7.3.4 光子計(jì)數(shù)技術(shù)
第8章 激光檢測(cè)技術(shù)
8.1 激光準(zhǔn)直技術(shù)
8.1.1 激光準(zhǔn)直技術(shù)的分類(lèi)
8.1.2 大氣折射率對(duì)激光準(zhǔn)直精度的影響
8.1.3 激光準(zhǔn)直儀
8.2 激光多普勒測(cè)速技術(shù)
8.2.1 多普勒效應(yīng)簡(jiǎn)述
8.2.2 光多普勒效應(yīng)
8.2.3 激光器多普勒測(cè)速原理
8.2.4 激光多普勒測(cè)速的基本模式
8.2.5 激光多普勒測(cè)速信號(hào)處理方法
8.2.6 激光多普勒測(cè)速技術(shù)的應(yīng)用
8.3 激光干涉檢測(cè)技術(shù)
8.4 激光衍射檢測(cè)技術(shù)
8.4.1 激光衍射測(cè)量概述
8.4.2 激光衍射測(cè)量原理
8.4.3 激光衍射測(cè)量分辨率
8.5 激光測(cè)距技術(shù)
8.5.1 激光測(cè)距技術(shù)的基本原理
8.5.2 激光測(cè)距技術(shù)的應(yīng)用
8.5.3 激光測(cè)距裝置
第9章 光纖傳感技術(shù)
9.1 光纖的結(jié)構(gòu)和基本原理
9.1.1 光纖的結(jié)構(gòu)
9.1.2 傳感用光纖器件
9.2 強(qiáng)度調(diào)制型光纖傳感器技術(shù)
9.2.1 反射式強(qiáng)度調(diào)制
9.2.2 透射式強(qiáng)度調(diào)制
9.2.3 光吸收系數(shù)強(qiáng)度調(diào)制
9.3 相位調(diào)制型光纖傳感器技術(shù)
9.3.1 光纖相位調(diào)制機(jī)理
9.3.2 光纖相位調(diào)制的普通干涉測(cè)量
9.4 偏振調(diào)制型光纖傳感器技術(shù)
9.4.1 光纖偏振調(diào)制的常用物理效應(yīng)
9.4.2 光纖偏振調(diào)制機(jī)理的典型應(yīng)用
9.5 頻率調(diào)制型光纖傳感器技術(shù)
9.5.1 光學(xué)多普勒效應(yīng)
9.5.2 光纖多普勒傳感技術(shù)
9.6 波長(zhǎng)調(diào)制型光纖傳感器技術(shù)
9.6.1 光纖熒光探測(cè)技術(shù)
9.6.2 光纖黑體輻射探測(cè)技術(shù)
第10章 光譜技術(shù)
10.1 光譜檢測(cè)技術(shù)概述
10.2 傅里葉變換紅外光譜技術(shù)
10.2.1 紅外光譜
10.2.2 傅里葉變換紅外光譜原理
10.2.3 傅里葉變換紅外光譜應(yīng)用
10.3 激光拉曼光譜檢測(cè)技術(shù)
10.3.1 激光拉曼光譜
10.3.2 幾種激光拉曼光譜技術(shù)
10.3.3 激光拉曼光譜檢測(cè)技術(shù)的應(yīng)用簡(jiǎn)介
10.4 熒光光譜檢測(cè)技術(shù)
10.4.1 熒光光譜的基本原理
10.4.2 X射線熒光光譜檢測(cè)技術(shù)
10.4.3 激光原子熒光光譜檢測(cè)
10.4.4 激光離子熒光光譜檢測(cè)
10.5 THz檢測(cè)技術(shù)
10.5.1 THz輻射的基本情況和主要特征
10.5.2 THz時(shí)域光譜探測(cè)技術(shù)
10.5.3 THz相關(guān)探測(cè)技術(shù)
10.5.4 THz成像技術(shù)
10.5.5 THz檢測(cè)技術(shù)存在的問(wèn)題及展望
參考文獻(xiàn)
新書(shū)資訊