《材料科學研究與測試方法（第4版）》首先介紹了晶體學基礎(chǔ)知識，然后系統(tǒng)介紹了X射線的物理基礎(chǔ)、X射線衍射的方向與強度、多晶體x射線衍射分析的方法、X射線衍射儀及其在物相鑒定、宏微觀應(yīng)力與晶粒尺寸的測定、多晶體的織構(gòu)分析、小角X射線散射、薄膜應(yīng)力及厚度測定等方面的應(yīng)用；介紹了電子衍射的物理基礎(chǔ)、透射電子顯微鏡的結(jié)構(gòu)與原理、衍射成像、運動學襯度理論、高分辨透射電子顯微技術(shù)、掃描電鏡、掃描透射電鏡、電子背散射衍射及原子探針等；介紹了AES、XPS、XRF、STM、AFM、LEED等常用表面分析技術(shù)和TG、DTA、DSC等常用熱分析技術(shù)的原理、特點及其應(yīng)用；后簡要介紹了紅外光譜、拉曼光譜和ICP等。書中研究和測試的材料包括金屬材料、無機非金屬材料、高分子材料、非晶態(tài)材料、金屬間化合物、復合材料等。對每章內(nèi)容作了提綱式的小結(jié)，并附有適量的思考題。書中采用了一些作者尚未發(fā)表的圖片和曲線，同時在實例分析中還注重引入了一些當前材料界新的研究成果。
《材料科學研究與測試方法（第4版）》可作為材料科學與工程學科本科生的學習用書，也可供相關(guān)學科與專業(yè)的研究生、教師和科技工作者使用。
1 晶體學基礎(chǔ)
1．1 晶體及其基本性質(zhì)
1．1．1 晶體的概念
1．1．2 空間點陣的四要素
1．1．3 布拉菲陣胞
1．1．4 典型晶體結(jié)構(gòu)
1．1．5 晶體的基本性質(zhì)
1．1．6 準晶體簡介
1．2 晶向、晶面及晶帶
1．2．1 晶向及其表征
1．2．2 晶面及其表征
1．2．3 晶帶及其表征
1．3 晶體的宏觀對稱及點群
1．3．1 對稱的概念
1．3．2 對稱元素及對稱操作
1．3．3 對稱元素的組合及點群
1．3．4 晶體的分類
1．3．5 準晶體的點群及其分類
1．3．6 點群的國際符號
1．3．7 點群的圣佛利斯符號
1．4 晶體的微觀對稱與空間群
1．4．1 晶體的微觀對稱
1．4．2 晶體的空間群及其符號
1．5 晶體的投影
1．5．1 球面投影
1．5．2 極式網(wǎng)與烏氏網(wǎng)
1．5．3 晶帶的極射赤面投影
1．5．4 標準極射赤面投影圖（標準投影極圖或標準極圖）
1．6 倒易點陣
1．6．1 正點陣
1．6．2 倒點陣（倒易點陣）
1．6．3 正倒空間之間的關(guān)系
1．6．4 倒易矢量的基本性質(zhì)
1．6．5 晶帶定律
1．6．6 廣義晶帶定律
本章小結(jié)
思考題
2 X射線的物理基礎(chǔ)
2．1 X射線的發(fā)展史
2．2 X射線的性質(zhì)
2．2．1 X射線的產(chǎn)生
2．2．2 X射線的本質(zhì)
2．3 x射線譜
2．3．1 X射線連續(xù)譜
2．3．2 X射線特征譜
2．4 x射線與物質(zhì)的相互作用
2．4．1 X射線的散射
2．4．2 X射線的吸收
2．4．3 吸收限的作用
本章小結(jié)
思考題
3 X射線的衍射原理
3．1 X射線衍射的方向
3．1．1 勞埃方程
3．1．2 布拉格方程
3．1．3 布拉格方程的討論
3．1．4 衍射矢量方程
3．1．5 布拉格方程的厄瓦爾德圖解
3．1．6 布拉格方程的應(yīng)用
3．1．7 常見的衍射方法
3．2 X射線的衍射強度
3．2．1 單電子對X射線的散射
3．2．2 單原子對X射線的散射
3．2．3 單胞對X射線的散射
3．2．4 單晶體的散射強度與干涉函數(shù)
3．2．5 單相多晶體的衍射強度
3．2．6 影響單相多晶體衍射強度的其他因子
本章小結(jié)
思考題
4 X射線的多晶衍射分析及其應(yīng)用
4．1 X射線衍射儀
……
5 電子顯微分析的基礎(chǔ)
6 透射電子顯微鏡
7 薄晶體的高分辨像
8 掃描電子顯微鏡及電子探針
9 表面分析技術(shù)
10 熱分析技術(shù)
11 電子背散射衍射
12 原子探針顯微分析
13 光譜分析
附錄
參考文獻
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