本書(shū)分為上、下兩冊(cè),系統(tǒng)介紹射電天文干涉測(cè)量與綜合孔徑技術(shù)的原理和方法。下冊(cè)(第9~17章):第9章對(duì)VLBI的特點(diǎn)和工作原理進(jìn)行介紹;第10章介紹如何測(cè)量可見(jiàn)度函數(shù)并反演亮度分布;第11章主要分析圖像處理算法,包括壓縮感知技術(shù);第12章介紹取得極大進(jìn)展的天體測(cè)量技術(shù);第13章介紹傳播路徑上的湍流等中性介質(zhì)對(duì)干涉測(cè)量的影響;第14章介紹傳播路徑上的電離層等電離介質(zhì)對(duì)干涉測(cè)量的影響;第15章介紹范西泰特?策尼克定理,以及空間相干和散射;第16章介紹射頻干擾的來(lái)源、影響以及分析抑制方法;第17章擴(kuò)展討論了干涉測(cè)量的其他應(yīng)用。
ftp://124.17.26.93/curved-toc/9787030750785-curvedToc.pdf