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片上系統測試設計與優化
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作者:(瑞典)埃里克·拉森著;孫仁杰譯
出版時間:2023/11/1
ISBN:9787030769183
出 版 社:科學出版社
適用讀者:數字IC前端設計人員、以及高等院校微電子、電子信息工程、計算機科學與技術等專業師生
中圖法分類:
TP360.21
頁碼:328
紙張:
版次:01
開本:16
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內容簡介
本書旨在討論片上系統(SoC)測試的相關問題,包括建模以及片上系統測試解決方案的設計和優化。需要測試的系統越來越復雜,測試數據量不斷增加,如何組織測試,即測試調度變得越來越重要。本書主要站在系統級的角度闡明模塊化SoC測試領域的諸多問題。《BR》本書由三部分組成,在概述經典測試方法的基礎上,介紹測試大型、模塊化和異構SoC面臨的挑戰和困難,并詳細介紹作者團隊為克服上述困難所做的研究工作。
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