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抗輻射集成電路設計理論與方法
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庫 存 數(shù):
0
作者:高武
出版時間:2018/10/1
ISBN:9787302505297
出 版 社:清華大學出版社
中圖法分類:
TN402
頁碼:320
紙張:
版次:1
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內(nèi)容簡介
本書首先介紹輻射環(huán)境、輻射相互作用物理過程及若干種輻射效應; 接下來,本書詳細介紹集成電路抗輻射加固設計方法學,包括單粒子閂鎖加固策略及測試、輻射加固器件的SPICE模型、抗輻射單元庫設計、自動綜合的抗輻射數(shù)字電路設計、模擬和混合信號電路加固設計等; 最后,本書介紹集成電路輻射效應仿真、單粒子效應的脈沖激光測試原理和輻射加固保障測試。
本書可作為微電子和核科學等領域相關教師、研究生和工程人員在學術研究和工程技術方面的參考書。
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