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公差配合與技術測量(于慧)

公差配合與技術測量(于慧)

定     價:¥22

中 教 價:¥16.94  (7.70折)

庫 存 數: 0

  • 作者:于慧 等主編
  • 出版時間:2011/6/1
  • ISBN:9787122106254
  • 出 版 社:化學工業出版社
  • 中圖法分類:TG801 
  • 頁碼:175
  • 紙張:膠版紙
  • 版次:1
  • 開本:16開
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  《公差配合與技術測量》采用最新標準,編寫過程中遵照循序漸進、重點突出、簡明扼要的原則,將本書分為公差配合和技術測量兩大部分。主要內容包括:極限與配合、幾何公差及其檢測、表面粗糙度及其檢測、測量技術基礎、典型零件的公差與配合等。
  《公差配合與技術測量》內容新穎、實用,運用了大量的圖表,便于讀者對于內容的理解和掌握。每章后面附有思考與練習題,可用于對所學知識的檢查與鞏固。另外為方便教學,配套電子教案。
  《公差配合與技術測量》可作為高職高專、成人高校、中等職業技術學校相關專業的教材,也可作為培訓機構用書,并可供相關工程技術人員參考使用。
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