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材料現(xiàn)代分析測試方法

材料現(xiàn)代分析測試方法

定     價(jià):¥39.8

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叢 書 名:高等學(xué)校機(jī)械基礎(chǔ)課程系列教材

  • 作者:王富恥
  • 出版時(shí)間:2006/1/1
  • ISBN:9787564004842
  • 出 版 社:北京理工大學(xué)出版社
  • 中圖法分類:H31 
  • 頁碼:356
  • 紙張:膠版紙
  • 版次:1
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《材料現(xiàn)代分析測試方法》著重介紹了材料現(xiàn)代分析測試方法的基本原理、試驗(yàn)方法、儀器設(shè)備及其應(yīng)用。內(nèi)容包括:X射線衍射分析原理、X射線多晶衍射方法及應(yīng)用、透射電子顯微分析、掃描電子顯微分析與電子探針、光電子能譜與俄歇電子能譜、光譜分析技術(shù)、熱分析技術(shù)、動(dòng)態(tài)力學(xué)實(shí)驗(yàn)技術(shù)。此外,還對(duì)一些較新的其他顯微分析方法的原理和應(yīng)用進(jìn)行了簡要介紹。各章附有相應(yīng)的習(xí)題與思考題。
《材料現(xiàn)代分析測試方法》可作為材料科學(xué)與工程學(xué)科的本科生教材或教學(xué)參考書,也可供相關(guān)學(xué)科與專業(yè)的教師、研究生和科技人員使用。

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