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MEMS可靠性

MEMS可靠性

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叢 書 名:國外電子與通信教材系列

  • 作者:(美),Allyson L.Hartzell ,(美),Mark G.da Silva ,(瑞士),
  • 出版時間:2012/11/1
  • ISBN:9787121188053
  • 出 版 社:電子工業(yè)出版社
適用讀者:可供從事MEMS開發(fā)及相關領域的人員參閱, 也可作為高等院校MEMS相關專業(yè)的教學用書
  • 中圖法分類:TN4 
  • 頁碼:233
  • 紙張:膠版紙
  • 版次:1
  • 開本:16開
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  《MEMS可靠性》是關于MEMS可靠性的一本專著,主要內(nèi)容包括:用于壽命預測的 可靠性統(tǒng)計理論,MEMS產(chǎn)品設計階段和制造階段的失效模式,MEMS在使用 中的失效模式,MEMS的失效根源及分析,MEMS的試驗和鑒定標準,以及提 升MEMS可靠性的工具和技術。本書的幾位作者在MEMS可靠性方面擁有多年的學術研究經(jīng)驗和工業(yè)生 產(chǎn)經(jīng)驗,所寫內(nèi)容具有較高的參考價值 
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